SN74BCT8244ADWR
OMRON AUTOMATION & SAFETYObrazy są przeznaczone wyłącznie do odniesienia.
Patrz specyfikacje produktu do szczegółów produktu.
Kup SN74BCT8244ADWR z zaufaniem z Components-World.HK, 1 rok gwarancji
Patrz specyfikacje produktu do szczegółów produktu.
Kup SN74BCT8244ADWR z zaufaniem z Components-World.HK, 1 rok gwarancji
Poprosić o wycenę
| Part Number | SN74BCT8244ADWR |
|---|---|
| Producent | N/A |
| Opis | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
| Stan ołowiu / status RoHS | Bezołowiowa / zgodna z RoHS |
| Cena Referencyjna (w dolarach amerykańskich) | Get a quote | ||||
- Parametr produktu
Product parameter
| Part Number | SN74BCT8244ADWR | Producent | N/A |
|---|---|---|---|
| Opis | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Stan ołowiu / status RoHS | Bezołowiowa / zgodna z RoHS |
| dostępna ilość | 4241 pcs | Arkusz danych | |
| Kategoria | Układy scalone | Źródło napięcia | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Dostawca urządzeń Pakiet | 24-SOIC | Seria | 74BCT |
| Opakowania | Tape & Reel (TR) | Package / Case | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Inne nazwy | SN74BCT8244ADWRE4 SN74BCT8244ADWRE4-ND SN74BCT8244ADWRG4 SN74BCT8244ADWRG4-ND |
temperatura robocza | 0°C ~ 70°C |
| Liczba bitów | 8 | Rodzaj mocowania | Surface Mount |
| Poziom czułości na wilgoć (MSL) | 1 (Unlimited) | Logic Type | Scan Test Device with Buffers |
| Status bezołowiowy / status RoHS | Lead free / RoHS Compliant | szczegółowy opis | Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC |
| Podstawowy numer części | 74BCT8244 |
- Produkty powiązane
- Powiązane wiadomości
Produkty powiązane
- Część#:
SN74BCT8244ANT - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP - W magazynie:
5932
- Część#:
SN74BCT8240ADWR - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - W magazynie:
5145
- Część#:
SN74BCT8244ANTG4 - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP - W magazynie:
4564
- Część#:
SN74BCT8240ADW - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - W magazynie:
9719
- Część#:
SN74BCT8240ADWRG4 - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC - W magazynie:
5606
- Część#:
SN74BCT8245ADWR - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC - W magazynie:
17445
- Część#:
SN74BCT760N - Producenci:
N/A - Opis:
IC BUF NON-INVERT 5.5V 20DIP - W magazynie:
40177
- Część#:
SN74BCT8373ADW - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC - W magazynie:
9204
- Część#:
SN74BCT8240ADWRE4 - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - W magazynie:
3997
- Część#:
SN74BCT8245ADW - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC - W magazynie:
10130
- Część#:
SN74BCT8244ADW - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - W magazynie:
14085
- Część#:
SN74BCT8244ADWE4 - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC - W magazynie:
10525
- Część#:
SN74BCT8245ANTG4 - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP - W magazynie:
5509
- Część#:
SN74BCT8245ANT - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP - W magazynie:
5000
- Część#:
SN74BCT8373ADWRE4 - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC - W magazynie:
4844
- Część#:
SN74BCT8373ADWRG4 - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC - W magazynie:
4718
- Część#:
SN74BCT8240ANTG4 - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP - W magazynie:
4000
- Część#:
SN74BCT8373ADWR - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC - W magazynie:
4478
- Część#:
SN74BCT8240ANT - Producenci:
N/A - Opis:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP - W magazynie:
4899
- Część#:
SN74BCT760NSR - Producenci:
N/A - Opis:
IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 20SO - W magazynie:
4872